Éliminez les flous de mise au point lors de vos inspections de précision
Lors des analyses microscopiques, obtenir une mise au point nette et stable sur l'axe vertical est un défi permanent. L'étage d'axe Z avec réglage fin apporte une réponse concrète aux opérateurs fatigués des sauts d'image. Son système de déplacement micrométrique manuel de ± 6,5/12,5 mm permet d'atteindre le plan focal idéal avec une fluidité déconcertante, simplifiant ainsi l'imagerie scientifique.
Une structure robuste contre les affaissements mécaniques
Contrairement aux modèles standards qui glissent sous le poids des outils, ce plateau supporte une charge maximale de 39,2 N sans aucune dérive verticale. Vos configurations de test restent stables pendant des heures, ce qui sécurise vos sessions de mesures prolongées et évite les recalibrages fastidieux.
Spécifications de la plateforme
| Composant | Détails de construction |
|---|---|
| Axe de travail | Z linéaire vertical |
| Plage de déplacement | ± 6,5 mm / ± 12,5 mm |
| Mécanisme interne | Rouleaux croisés précontraints |
| Charge de sécurité | 39,2 N maximum |
| Usage recommandé | Inspection optique, métrologie, positionnement laser |
Grâce à sa conception soignée, cet outil transforme vos tâches d'inspection complexes en opérations simples, rapides et hautement reproductibles.
